X-ray检测技术在电子封装中的应用

X-ray检测技术在电子封装中的应用

随着电子技术的飞速发展封装的小型化和组装的高密度化以及各种新型器件的不断涌现,对装质量的要求也越来越高于是对检查的方法和技术提出了更高的要求。为满足这一要求,新的检测技术不断出现,自动X-Ray检测技术是这其中的典型代表。它不仅可对不可见焊点进行检测(如球栅阵列器件BGA),还可对检测结果进行定性、定量分析,以便及早发现故障。

 

 目前,主要针对电子组装过程采用的测试方式有以下几种:

(l)人工目检。

(2)飞针测试。

(3)ICT(In-circuit tester)针床测试。

(4)自动光学检查AOI (Automatic Opitical Inspection)

 

根据对各种检测技术和设备的了解AXI自动检测技术与上述几种检测技术相比具有更多的优点。它可使我们的检测系统得到较高的提升为我们提高“一次通过率”和争取“零缺陷”的目标,提供一种有效检测手段。

AXI检测原理

AXI是近几年才兴起的一种新型测试技术。当组装好的线路板(PCBA)沿导轨进人机器内部后,位于线路板上方有一X-Ray发射管,其发射的x射线穿过线路板.后被置于下方的探测器(一般为摄像机)接受,由于焊点中含有可以大量吸收x射线的铅,因此与穿过玻璃纤维、铜、硅等其它材料的x射线相比,照射在焊点上的x射线被大量吸收,而呈黑点产生良好图像(如图2所示),使得对焊点的分析变得相当直观,故简单的图像分析算法便可自动且可靠地检验焊点缺陷。

AXI检测的特点

对工艺缺陷的覆盖率高达97%。可检查的缺陷包括:虚焊、桥连、立碑、焊料不足、气孔、器件漏装等等。尤其是X-RayBGACSP等焊点隐藏器件也可检查。

AXI检测设备

AXI工检测设备有了较快的发展,已从过去的2D检测发展到3D检测,具有SPC统计控制功能,能够与装配设备相连,实现实时监控装配质量。目前的3D检测设备按分层功能区分有两大类:(1)不带分层功能(2)具有分层功能。

 

X-Ray检测技术为SMT生产检测手段带来了新的变革,可以说它是目前那些渴望进一步提高生产工艺水平,提高生产质量,并将及时发现装联故障作为解决突破口的生产厂家的最佳选择。随着SMT器件的发展趋势,其他装配故障检测手段由于其局限性而寸步难行,X-Ray自动检测设备将成为SMT生产设备的新焦点并在SMT生产领域中发挥着越来越重要的作用。

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