X-ray射线检测仪在芯片检测中的应用

X-ray射线检测仪在芯片检测中的应用
发布于 2020-09-08

X-ray射线检测仪在芯片检测中的应用





X-ray射线检测设备对芯片进行检测，利用其内部的X光管发射X射线照射芯片成像的原理，通过对产品内部进行透视，进而详细准确的了解到产品的内部结构，从而达到对产品品质的一个准确判断，因此，在众多检测行业中得到广泛的运用。今天我们通过实例来了解一下X-ray射线检测仪在电子芯片中的作用。

本次检测的设备型号为:Phoenix nanome|x，主要规格参数如下:

本次检测实物为下图所示：


芯片外观精致小巧，具有强大功能性的微型结构体，且在结构体越精密的情况下，其检测的难度就会越大。
本次检测多方位、多视角对上图芯片进行了内部分析，具体如下：
芯片内部布线层




芯片3D渲染图

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