X-ray射线检测仪在芯片检测中的应用

X-ray射线检测仪在芯片检测中的应用

X-ray射线检测仪在芯片检测中的应用






X-ray射线检测设备对芯片进行检测,利用其内部的X光管发射X射线照射芯片成像的原理,通过对产品内部进行透视,进而详细准确的了解到产品的内部结构,从而达到对产品品质的一个准确判断,因此,在众多检测行业中得到广泛的运用。今天我们通过实例来了解一下X-ray射线检测仪电子芯片中的作用。

本次检测的设备型号为:Phoenix nanome|x,主要规格参数如下:

本次检测实物为下图所示:


芯片外观精致小巧,具有强大功能性的微型结构体,且在结构体越精密的情况下,其检测的难度就会越大。
本次检测多方位、多视角对上图芯片进行了内部分析,具体如下:
芯片内部布线层




芯片3D渲染图